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OPHIR激光光束測量儀BW-NIR-2-5數(shù)字化信號(hào)
瀏覽次數(shù):401發(fā)布日期:2024-01-25

Ophir Optronics成立于1976年,專注于精密紅外光學(xué)、光電子儀表和3D非接觸式測量設(shè)備領(lǐng)域。該公司開發(fā),生產(chǎn)和銷售高品質(zhì)的產(chǎn)品是基于先進(jìn)的技術(shù),并素以質(zhì)量和可靠性而被熟知。

Ophir Optronics總部設(shè)在耶路撒冷,子公司設(shè)在美國(馬薩諸塞州和猶他州)和以色列,并且在美國,日本和歐洲皆設(shè)立有銷售辦事處,并且是加利福尼亞州爾灣Newport公司(NASDAQ NEWP)的一部分。

Ophir Optronics主要產(chǎn)品:

激光功率&能量計(jì)

傳感器取景器

儀表儀

功率/位置/尺寸傳感器

激光功率傳感器、激光光電傳感器、激光熱電傳感器、光功率計(jì)、太赫茲激光測量、LED測量

激光能量傳感器

光電二極管能量傳感器、激光熱釋電能量傳感器

電源/能量計(jì)

PC接口

激光光束分析儀

基于攝像頭的分析儀Spiricon

OEM產(chǎn)品

主要型號(hào):

3A-QUAD、3A-P-QUAD、50(150)A-BB-26-PPS、F150A-BB-26-PPS、PE9-C、PE10-C、PE10BF-C、PE25-C、PE25BF-C、PE50-C、PE50BF-C、PE50-DIF-C、PE25BF-DIF-C、PE50BF-DIF-C、PE50BF DIFH-C、PE50BB-DIF、PE100BF-DIF-C、IPLEX FX、IPLEX RX/ IPLEX RT、IPLEX UltraLite、IPLEX TX、IPLEX YS、IPLEX長管檢測解決方案、IPLEX MX II、IPLEX LX/ IPLEX LT

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該NanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過其硅探測器,準(zhǔn)確捕獲和分析190nm - 1100nm的波長。該分析儀包括適合于小光束的狹縫尺寸、近實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)捕獲率、可選的功率測量功能等特征,且可在連續(xù)或kHz脈沖模式下工作,非常適合于對(duì)UV、VIS和NIR激光進(jìn)行分析。

性能特點(diǎn)

  • 位置和光束大小達(dá)到亞微米級(jí)精度

  • 易于使用的集成軟件包

  • 一個(gè)軟件包中包含單個(gè)和多個(gè)光束分析標(biāo)準(zhǔn)

  • 可軟件控制的掃描速度(更新率)

  • 采用峰值-連接算法用于脈沖光束測量

  • USB2或PCI接口和數(shù)字探頭控制

  • 12位數(shù)字化信號(hào)

  • 采用ActiveX自動(dòng)化與其他軟件包通信

  • 可選硅和鍺掃描頭的功率計(jì)

  • 可提供硅、鍺和熱釋電探測器

技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)地:美國

傳感器類型:Silicon

光譜范圍:190-1100 nm

狹縫尺寸:1.8 µm

孔徑尺寸:3.5 mm

光束尺寸:7 µm - 2.3 mm

掃描頭尺寸:83 mm

功率范圍:10 nW - 10 W

通信:USB 2.0

軟件:NanoScan Standard

兼容的光源:CW, Pulsed >25 kHz